基本信息
标准名称: | 硅材料原生缺陷图谱 |
中标分类: | 冶金 >> 半金属与半导体材料 >> 半金属 |
ICS分类: | 电气工程 >> 半导体材料 |
替代情况: | 原标准号GBn 266-87 |
发布部门: | 中国有色金属工业总公司 |
发布日期: | 1987-06-25 |
实施日期: | 1988-03-01 |
首发日期: | |
作废日期: | 2010-01-20 |
出版日期: | |
页数: | 30页 |
适用范围
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前言
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目录
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引用标准
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所属分类: 冶金 半金属与半导体材料 半金属 电气工程 半导体材料