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YS/T 209-1994 硅材料原生缺陷图谱

时间:2024-05-17 09:36:55 来源: 标准资料网 作者:标准资料网 阅读:8462
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基本信息
标准名称:硅材料原生缺陷图谱
中标分类: 冶金 >> 半金属与半导体材料 >> 半金属
ICS分类: 电气工程 >> 半导体材料
替代情况:原标准号GBn 266-87
发布部门:中国有色金属工业总公司
发布日期:1987-06-25
实施日期:1988-03-01
首发日期:
作废日期:2010-01-20
出版日期:
页数:30页
适用范围

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所属分类: 冶金 半金属与半导体材料 半金属 电气工程 半导体材料
【英文标准名称】:Resistors,fixed,lacquered,crackedcarbonfilm,highstability,withaxialleads
【原文标准名称】:用于较高要求的带轴向引线接头涂漆碳膜固定电阻.应用等级FKF
【标准号】:DIN44052-1976
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】:


基本信息
标准名称:光学和光学仪器 大地测量仪器 术语
英文名称:Optics and optical instruments—Geodetic and surveying instruments—Vocabulary
中标分类: 仪器、仪表 >> 光学仪器 >> 望远镜、大地测量与航测仪器
ICS分类: 计量学和测量、物理现象 >> 光学和光学测量 >> 光学测量仪器
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2011-06-16
实施日期:2011-11-01
首发日期:2011-06-16
作废日期:
主管部门:全国光学和光子学标准化技术委员会(SAC/TC 103)
归口单位:全国光学和光子学标准化技术委员会(SAC/TC 103)
起草单位:上海理工大学、 苏州一光仪器有限公司、江南永新光学有限公司、宁波舜宇仪器有限公司等
出版社:中国标准出版社
出版日期:2011-11-01
页数:24页
适用范围

本标准规定了有关测距仪、水准仪、经纬仪等大地测量仪器以及在军事地形测量、地质测量、平面测量和工程测量中使用的部件的术语和定义。而与摄影测量法,天文学,水文测量及工业测量有关的术语除外。

前言

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所属分类: 仪器 仪表 光学仪器 望远镜 大地测量与航测仪器 计量学和测量 物理现象 光学和光学测量 光学测量仪器